Mahr MarSurf XR 20-轮廓粗糙度仪-东鼎久衡

德国Mahr-MarSurf XR 20-轮廓粗糙度仪

MarSurf XR 20是Mahr顶级表面计量仪器的入门级系统。无论是在测量室还是在生产中，该基于计算机平台的仪器都能根据国际标准提供所有常见表面参数和轮廓。

布局简洁的图标和方便使用的用户界面使这款高性能产品非常容易操作。MarSurf XR 20是表面计量数十年经验和一流领先技术的结晶。

通用型“MarWin”测量和评定软件可完成最多样化和广泛的测量任务，同时保证其灵活性和可升级性以满足未来的需求

MarSurf XR 20

● 超过 100 种符合 ISO / JIS、ASME 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓

● 所有表面参数的公差监控和统计

● 快速创建Quick&Easy测量程序的Teach-in方法

● 全面的测量记录

● 根据标准选择滤波和扫描长度的自动功能

● 通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法（静态/动态）

● 可调维护和校准间隔

● 快速熟悉操作原理的模拟模式

● 多种测量站配置可使用自定义应用

德国Mahr-MarSurf XR 20-轮廓粗糙度仪

附件：

● 平行虎钳

● V形块

常规软件选项：

● MarWin 主波纹度选项 (WDc)

● ISO 13565-3 表面参数选项

● QS-STAT / QS-STAT Plus 选项

● 轮廓处理选项

● 用户自定义参数选项

● MarSurf XR 1 / XR 20 选项轮廓 1

● 所有选项都在一个MLK（Mahr许可密钥）上

MarSurf XR 20
测量原则	探针法
输入	R 测头，MFW 250 B
测量范围 mm	MFW 250: ±25 mm，±250 mm，（高达 ±750 mm） ±1000 英寸，±10,000 英寸（高达 ±30,000 英寸）
过滤器符合 ISO/JIS 标准	ISO 11562 标准高斯滤波，ISO 16610-21/ISO 16610-31 标准滤波
扫描长度（文本）	自动；0.56 mm；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm，测量至挡块，可变扫描长度取决于驱动装置
采样长度数量符合 ISO/JIS	1 至 50（默认：5）
表面参数	超过 100 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓

布局简洁的图标和方便使用的用户界面使这款高性能产品非常容易操作。MarSurf XR 20是表面计量数十年经验和一流领先技术的结晶。